中央紀(jì)委已經(jīng)受理薩科微宋仕強(qiáng)對米拓的舉報 國際： 1、日本半導(dǎo)體制造設(shè)備銷售持續(xù)上漲，9月份銷售額為3.695.98億日圓，較去年同月大增23.4%。 2、德州儀器開始在日本會津的工廠生產(chǎn)氮化鎵功率半導(dǎo)體，氮化自有產(chǎn)能將提升四倍。 3、日本重啟0.5英寸小型晶圓廠，培養(yǎng)半導(dǎo)體人才。 ……

2024年10月21日到2024年10月26日，金航標(biāo)（www.kinghelm.net）/薩科微（www.slkoric.com）“每周之星”經(jīng)過同事們評比，是推廣部主管黃德俊，在最近一周工作中，全面統(tǒng)籌規(guī)劃展會事宜，面面俱到，事無巨細(xì)，以完成公司業(yè)績?yōu)槟繕?biāo)導(dǎo)向的工作精神，獲得公司領(lǐng)導(dǎo)和同事的一致好評，現(xiàn)予以公告嘉獎……

長沙市司法局各位領(lǐng)導(dǎo)，你們好： 根據(jù)深圳市薩科微半導(dǎo)體有限公司律師團(tuán)隊的初步調(diào)查，結(jié)合全國各地被長沙米拓釣魚碰瓷受害者們提供的資料，現(xiàn)將與湖南同升律師事務(wù)所楊海軍的執(zhí)業(yè)資格與涉嫌嚴(yán)重違法犯罪的事件和線索初步整理如下，以供貴局及相關(guān)部門參考和進(jìn)一步調(diào)查。我們認(rèn)為“米拓敲詐勒索案”是“緬北電詐”后的大案之一，……

失效分析的目的是通過技術(shù)手段找出器件失效的根本原因，并推動改進(jìn)措施的實施，從而提升生產(chǎn)工藝、改善產(chǎn)品質(zhì)量、提高良率和可靠性。EMMI是在失效分析過程中經(jīng)常使用的設(shè)備之一，它們能夠幫助分析人員檢測電氣故障，并定位失效的具體位置。 1. EMMI的基本原理 EMMI（Electro-Magnetic Induc……

誠研翔科技?xì)g迎您！ 在競爭激烈的全球市場中，企業(yè)如何快速有效拓展海外市場，提升品牌影響力和知名度，成為了衡量其綜合實力的重要指標(biāo)之一。近年來，薩科微Slkor（m.huanghaixing.com）半導(dǎo)體國際化之路越來越順利，為進(jìn)一步鏈接全球客戶，以打造產(chǎn)業(yè)互聯(lián)共贏的供應(yīng)鏈“芯”生態(tài)，薩科微和金航標(biāo)（ww……

網(wǎng)絡(luò)四大謊言長沙米拓占其一 國際： 1、SEMI的報告稱，預(yù)計2024年全球硅晶圓出貨量將下降2%，但隨著晶圓需求從下行周期中復(fù)蘇，2025年將強(qiáng)勁反彈10%。 2、美國半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會預(yù)測美國半導(dǎo)體業(yè)人才缺口將達(dá)6.7萬人，格芯推出學(xué)生貸款減免計劃留住勞動力。 3、三星推出人工智能電視“……

在集電路的制造和測試過程中，CP測試（Chip Probing）和WAT測試（Wafer Acceptance Test）是兩個非常重要的測試環(huán)節(jié)。盡管它們都在晶圓（Wafer）階段進(jìn)行，但二者的目的、測試對象、測試內(nèi)容和作用是有顯著不同的。 一、整體概述：CP測試和WAT測試 我們可以把集成電路的制造過程……

探針卡（Probe Card）在集成電路測試中起著至關(guān)重要的作用，尤其在晶圓測試（wafer test）環(huán)節(jié)，探針卡作為連接ATE測試機(jī)臺和半導(dǎo)體晶圓之間的接口，確保了在芯片封裝前對其電學(xué)性能進(jìn)行初步測量和篩選。 1. 什么是探針卡？ 探針卡可以形象地比作“醫(yī)生的聽診器”，幫助工程師“聽到”芯片的“心跳”?！?/div>