現(xiàn)在國內(nèi)檢測設(shè)備的創(chuàng)業(yè)市場實在數(shù)太火了

本月初，我剛剛發(fā)布了一個數(shù)據(jù)，統(tǒng)計了全球53家半導(dǎo)體缺陷檢測設(shè)備的供應(yīng)商數(shù)據(jù)。這才過去兩周的時間，我這里有收集到三家供應(yīng)商信息，而且都是中國大陸的廠商 -- 基本每周增加1到2家 ...

 其實這個領(lǐng)域的技術(shù)門檻很高。按照之前某個行業(yè)大佬給我的指點：

目前國內(nèi)很多缺陷檢測設(shè)備還是停留在AOI的階段，分辨率都在0.5um以上。而真正意義上的納米級檢測設(shè)備，無論是有圖形還是無圖形，一般明場的準(zhǔn)入門檻必須達(dá)到小于250nm，而暗場的門檻是小于100nm

有圖形檢測一般對標(biāo)KLA的2139（明場）和PUMA 93XX/95XX（暗場）；無圖形的一般以KLA的 Surfscan為基準(zhǔn)（目前這塊國內(nèi)好像有幾家已經(jīng)做得相當(dāng)不錯，技術(shù)指標(biāo)可以達(dá)到SP3甚至S號稱對標(biāo)SP6）

目前限于能力有限，我還無法對收集到的56家供應(yīng)商（其中37家是中國大陸廠商）進(jìn)行更細(xì)致的技術(shù)分級統(tǒng)計。只能先做個相對簡單的統(tǒng)計表格供大家參考一下

大家發(fā)現(xiàn)任何問題，或者有任何建議，請留言和我交流。謝謝您的支持了

免責(zé)聲明：本文采摘自“半導(dǎo)體綜研”，本文僅代表作者個人觀點，不代表薩科微及行業(yè)觀點，只為轉(zhuǎn)載與分享，支持保護(hù)知識產(chǎn)權(quán)，轉(zhuǎn)載請注明原出處及作者，如有侵權(quán)請聯(lián)系我們刪除。